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中国大学MOOC电子元器件失效分析与典型案例作业答案

电子元器件失效分析与典型案例

学校: 九八五题库

学校: 超星学习通

题目如下:

1. 1. 以下信息为某失效分析工程师现场调查得到的信息,根据以下信息可搜集样品信息如下:失效器件型号为( ),失效器件生产厂家为( ),失效阶段为( ),失效率为( )。 某产品整机在初调阶段,测得三阶互调指标不合格(要求≥45dB,实测值为42dB。),在通电一段时间后(约3分钟),互调指标进一步恶化至38dB。定位到把三极管2N3866A(厂牌为SEMICOA),更换为原使用的厂牌CENTRAL的2N3866A后,故障消失,互调指标正常。本次共使用了30个2N3866A(厂牌为SEMICOA),均不合格。产线人员提供给失效分析人员4个样品,其中2个失效品,2个原使用的良品。

答案: 2N3866A# SEMICOA# 初调;整机初调# 100%

2. 1. 某部门员工发现一PCB板上有一电容发生失效,欲申请失效分析部门做失效分析,此时应将电容直接拆下交给失效分析部门人员。

答案: 错误

3. 1. 对失效器件进行外观检查时,发现品牌标识与良品不同,可以推断失效品可能是( )。

A. 可焊性差

B. 内部芯片受损

C. 内部严重烧毁

D. 假冒翻新

答案: 假冒翻新

4. 2. 以下哪个图为正常的塑封料的金相形貌( )。

A.

B.

答案:

5. 3. 翻新IC的“货源”来自( ),其中最主要的货源为拆机件。

A. 来自淘汰的电子机器的拆机件

B. 非法渠道的次品

C. IC制造商的低质量档次品

答案: 来自淘汰的电子机器的拆机件# 非法渠道的次品# IC制造商的低质量档次品

6. 4. 下图为某芯片的外观图,由图可以看出,芯片的型号为( ),生产厂家为( ),生产批次为( )年第( )周。

答案: MAX3387E# 美信;MAXIM# 2015;15# 28

7. 5. 外观检查可使用的设备包括( )、( )。

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8. 6. 器件翻新时必须掩盖原来的标识,IC标识主要采用( )烧蚀,要去掉只能对IC表面进行( )。

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9. 1. X-RAY检查使用的仪器为( )。

A. 半导体图示仪

B. 体式显微镜

C. 金相显微镜

D. X射线透视仪

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10. 2. X-RAY检查可以观察到的失效器件的特征有( )。

A. 器件结构与良品不同

B. 器件内部键合丝断开

C. BGA焊点不完整

D. 品牌标识与良品不同

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11. 1. 以下哪种封装容易受潮,并且受潮后使用时易产生爆米花效应?( )

A. 金属封装

B. 陶瓷封装

C. 塑封

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12. 2. 下图为一陶瓷电容的开封图,可见45°裂纹,此陶瓷电容的失效机理为( )。

A. 环境应力

B. 寿命应力

C. 机械应力

D. 热应力

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13. 3. 开封有两种方式,物理开封和( )开封,一般陶瓷封装采用( )开封。

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14. 4. 物理开封一般采用的设备为( )。

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15. 5. 塑封类器件开封应采用( )开封。

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16. 1. 欲获得较大的电容,可采用以下哪种方式?

A. 应选用尽可能小的极板面积

B. 应选用尽可能小的极板间距

C. 应选用尽可能小的介电常数

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17. 2. 欲获得容量小的电容,可采用以下哪种方式?

A. 选用尽可能小的极板间距

B. 选用尽可能小的极板面积

C. 选用尽可能大的介电常数

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18. 3. 106的电容表示的电容量为( )。

A. 1uF

B. 10uF

C. 100pF

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19. 4. 以下关于电容的特性说法正确的是( )。

A. 电容的阻抗是恒定的,和频率没有关系

B. 电容可以通高频,阻低频

C. 电容具有充放电的特性

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20. 5. 某电容器的额定电压为6.3V,可以将它使用在工作电压为12V的电路中。

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21. 6. 某电容器标称温度范围为-40℃到85℃,所以此电容器的工作温度必须在此范围内。

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22. 1. 以下哪一类陶瓷电容容量温度特性最好?

A. 一类

B. 二类

C. 三类

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23. 2. 以下哪一类陶瓷的介电常数最小?

A. 一类

B. 二类

C. 三类

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24. 3. 在同样体积下,以下哪类陶瓷可以做到的容量最大?

A. 一类

B. 二类

C. 三类

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25. 4. 陶瓷电容对以下哪种应力最为敏感?

A. 机械应力

B. 环境应力

C. 电应力

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26. 5. 三类瓷的陶瓷电容适合用于可靠性要求较高的电路中。

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27. 1. 铝电解电容器的电介质为( )。

A. 阳极箔

B. 阳极箔表面的绝缘铝氧化膜

C. 导电的液态电解质

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28. 2. 铝电解电容器的负极平面为( )。

A. 阳极箔

B. 阴极箔

C. 导电的液态电解质

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29. 3. 铝电解电容主要关注( ),因为铝电解电容为液态,芯子发热将导致电解液挥发,长期下去最终干涸失效。

A. 温度

B. 湿度

C. 电压

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30. 4. 铝电解电容适合用于高频电路。

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31. 5. 大容量的铝电解电容适合用于低频的滤波场合。

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32. 6. 铝电解电容接反没有问题。

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33. 1. 以下哪种电容比较适用于高频滤波?

A. 铝电解电容

B. 钽电解电容

C. 陶瓷电容

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34. 2. 以下哪种电容比较适用于工频滤波?

A. 铝电解电容

B. 钽电解电容

C. 陶瓷电容

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35. 3. 以下哪种电容易受温度冲击和机械应力影响?

A. 铝电解电容

B. 钽电解电容

C. 陶瓷电容

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36. 4. 以下哪种电容易受温度冲击和机械应力影响?

A. 铝电解电容

B. 钽电解电容

C. 陶瓷电容

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37. 5. 以下哪种电容在单板布线时要考虑不要把电容放在应力区?

A. 铝电解电容

B. 钽电解电容

C. 陶瓷电容

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38. 6. 15V以上的直流电压滤波可以使用钽电容。

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39. 1. 硅管的开启电压( )锗管开启电压。

A. 大于

B. 等于

C. 小于

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40. 2. 当温度升高时,二极管反向饱和电流( )。

A. 减小

B. 增大

C. 不变

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41. 3. 稳压管工作在稳压区时,其工作状态为( )。

A. 正向截止

B. 正向导通

C. 反向击穿

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42. 4. 由稳压管构成的稳压电路需接一限流电阻,限流电阻的接法是与稳压二极管( )。

A. 串联

B. 并联

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43. 5. 温度升高时,二极管的正向压降( )。

A. 增大

B. 减小

C. 不变

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44. 6. 已知电路输入信号ui如下左图所示,电路如下右图所示,假设二极管的导通电压为0,则输出电压uo波形为( )。

A.

B.

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45. 7. 高频电路一般使用( )型二极管。

A. 点接触

B. 面接触

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46. 8. 整流二极管一般为( )型二极管。

A. 点接触

B. 面接触

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47. 9. 二极管的一个非常重要的特性为( )

A. 单向导电性

B. 双向导电性

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48. 10. 二极管外加正向偏置电压是指,电源的正极接( )端,负极接( )端。注明,两个空格统一填P或N。

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49. 11. 二极管外加反向偏置电压是指,电源的正极接( )端,负极接( )端。注明,两个空格统一填P或N。

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50. 12. 已知发光二极管导通电压为1.5V,正向电流为5到20mA才能正常工作,当正向电流设计为10mA时,R的取值应为( )欧姆。

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51. 1. 下图为集成电路的内部结构图,其中橙色区域为( )。

A. 金线

B. 银浆

C. 环氧树脂

D. 引线框架

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52. 2. 下图为集成电路的内部结构图,其中连接芯片和外部引线框架的为( )。

A. 金线

B. 银浆

C. 环氧树脂

D. 引线框架

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53. 3. 下图为集成电路的内部结构图,其中将die固定在die pad上的物质为( )。

A. 金线

B. 银浆

C. 环氧树脂

D. 引线框架

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54. 4. 下图为集成电路的内部结构图,其中用来将内部的die和lead fram(引线框架)封装起来的物质叫做( )。

A. 金线

B. 银浆

C. 环氧树脂

D. 引线框架

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55. 5. 下图的集成电路封装形式为( )。

A. SOIC

B. QFN

C. BGA

D. QFP

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56. 6. 下图的集成电路封装形式为( )。

A. SOIC

B. QFN

C. BGA

D. QFP

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57. 7. 下图的集成电路封装形式为( )。

A. SOIC

B. QFN

C. BGA

D. QFP

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58. 8. 按集成电路的封装材料分,下图的封装为( )。

A. 金属封装

B. 陶瓷封装

C. 塑料封装

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59. 9. 按集成电路的封装材料分,下图的封装为( )。

A. 金属封装

B. 陶瓷封装

C. 塑料封装

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60. 10. 按功能结构分类,集成电路可分为( )。

A. 模拟集成电路

B. 数字集成电路

C. 混合集成电路

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61. 11. 常用集成电路的基本单元包括( )。

A. 电阻

B. 电容

C. 二极管

D. 晶体管

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62. 12. 集成电路制造工艺包括( )。

A. 双极型集成电路工艺

B. CMOS集成电路工艺

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63. 13. CMOS电路是指将( )串联起来的电路。

A. NMOS

B. 双极型晶体管

C. PMOS

D. 电阻

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64. 14. 模拟信号是在时间上连续不间断的信号,不容易受到干扰。

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65. 1. 集成电路封装中最关键的一步为( )。

A. 注塑

B. 银浆固化

C. 引线键合

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66. 2. 以下制作硅片的流程正确的为( )。

A. 沙子-熔融-切割-拉单晶-硅晶圆

B. 沙子-熔融-拉单晶-切割-硅晶圆

C. 沙子-切割-熔融-拉单晶-硅晶圆

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67. 1. 湿敏等级的缩写为( )。

A. MSL

B. MSD

C. EMC

D. ESD

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68. 2. 湿敏元件的裸露寿命floor life指的是( )。

A. 器件从防潮袋拿出后,焊接后在空气中可暴露的时间

B. 器件从防潮袋拿出后,到回流焊为止,器件在不超过30度和60%RH的工厂环境条件下所允许的最长的曝露时间。

C. 器件从防潮袋拿出后,焊接时可允许焊接的最长时间

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69. 3. 湿度敏感等级为1的器件( )。

A. 不需要做湿敏控制

B. 从防潮袋拿出后,需要在1年内回流焊

C. 从防潮袋拿出后,需要在24小时内回流焊

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70. 4. 湿度敏感等级为6的器件( )。

A. 不需要做湿敏控制

B. 从防潮袋拿出后,需要在1年内回流焊

C. 从防潮袋拿出后,需要在24小时内回流焊

D. 使用前必须烘烤,且烘烤后必须在标签规定时间内进行回流焊接。

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71. 5. 潮敏对芯片的损伤,我们俗称( )效应。

A. 爆米花

B. 蝴蝶

C. 多米诺骨牌

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72. 6. 烘烤人员在烘烤MSD时,要严格按照标准要求对烘烤时间和温度进行控制,高温托盘可以在( )℃之下进行烘烤。

A. 115

B. 125

C. 135

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73. 7. 装在低温料盘(如低温Tray盘、管筒、卷带)内的器件其烘烤温度不能高于( )℃,否则料盘会受到高温损坏。

A. 30

B. 40

C. 60

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74. 8. 下图为一MSD的包装袋的标签,从标签可知,此器件的湿敏等级为( )。

A. 1

B. 3

C. 5

D. 2

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75. 9. 下图为一MSD的包装袋的标签,从标签可知,此器件在密封袋的寿命是否超过12个月。

A. 是

B. 否

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76. 10. 下图为一MSD的包装袋的标签,从标签可知,此器件包装袋的密封时间为( )。

A. 2020年第一周

B. 2020年1月

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77. 11. 在防潮包装袋内会装有一张湿度指示卡,用来指示防潮包装袋内湿度状况,借此来判断里面的MSD吸收的水分是否过多。色点正常为( )色。

A. 蓝

B. 红

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78. 12. 潮敏对芯片引起的损伤,具体表现为( )。

A. 塑封料与金属框架发生分层

B. 塑料与芯片间发生分层

C. 拉断键合丝

D. 芯片被击穿

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79. 13. 潮敏的防护措施有( )。

A. 若发现MSD的防潮包装袋有破损,需先进行烘烤,再进行回流焊

B. 控制车间湿度

C. 对于已受潮芯片在回流焊前需要按要求进行烘烤

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80. 14. MSD的中文全称为( )。

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81. 15. 湿敏器件包装被拆开后,要在湿敏元件标签规定的时间内完成回流焊,如果没用完,要及时放入防潮柜或者及时办理退库手续。

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82. 16. 当生产线发生异常,导致生产无法正常进行时,不用对MSD做出相应的处理。

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83. 1. 声学扫描显微镜是判断器件是否分层的重要手段,下图为某失效器件的声扫图,由图可以判断出( )。

A. 芯片和塑封材料分层

B. 引线框架和塑封材料分层

C. 键合丝断裂

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84. 2. 声学扫描显微镜是判断器件是否分层的重要手段,下图为某失效器件的声扫图,由图可以判断出( )。

A. 芯片和塑封材料分层

B. 引线框架和塑封材料分层

C. 键合丝断裂

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